27 Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 с дополнительной системой обеспечения термоиспытаний

текущая загрузка оборудования

планируемая загрузка на следующий квартал

Проведение исследований в любых областях материаловедения, в области нано- и биотехнологий.

Растровый электронный микроскоп позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат, с большим числом элементов разложения (пикселей). Прибор предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. Микроскоп оснащен рентгеновским спектрометром для проведения элементного микроанализа (EDAX).

Технические характеристики:

катод: вольфрамовый
апертуры: 7.5 – 120 мкм
ускоряющее напряжение: 100 В – 30 кВ
максимальное увеличение: до100000 крат
сверхвысокое разрешение: до 1 нм (при 20 кВ и рабочем расстоянии 2 мм)
вакуумные режимы: высокий, низкий вакуум и режим естественной среды
моторизированный столик: картезианского типа с пятью степенями свободы
разрешение EDX детектора: 129 эВ на линии Ka(Mn), скорость счета до 100000 имп/с
микроскоп управляется с использованием ПК.